텍트로닉스는 급증하는 PAM4 변조 측정 수요에 대응하여 광학 및 전기 인터페이스를 모두 완벽하게 지원하는 업계에서 가장 포괄적인 분석 툴을 발표했다.

새로운 툴은 DPO70000SX 70GHz 실시간 오실로스코프 및 DSA8300 등가 시간 오실로스코프 모두에서 작동하므로, 특정 애플리케이션에 필요한 계측기 구성에 관계없이 가장 높은 정확도로 최상의 결과를 제공한다.

PAM4는 400G(일반적으로 8 x 50G) 전기 및 광학 인터페이스에 대한 IEEE P802.3bs 실무 그룹의 최신 400기가비트 이더넷 표준에 채택되고 있다. 2레벨 신호 처리를 사용하는 기존 NRZ에 비해 PAM4에 사용되는 4레벨 체계는 신호 복잡성을 크게 증가시키며, 성능 및 노이즈 감도와 관련하여 새로운 차원의 테스트 장비에 대한 수요를 불러일으킨다.

광학 및 전기 영역을 모두 지원하는 공용 툴 셋트를 사용하여 13GBaud ~ 56GBaud 범위의 PAM4 신호를 안정적으로 특성화할 수 있는 기능은 업계에서 이 새로운 변조 방법론을 추진하는 데 핵심적인 요소이다. 텍트로닉스 DPO70000SX 및 DSA8300 오실로스코프 모두에서 업계 최고 수준의 저노이즈 성능을 제공하므로 엔지니어와 연구원들이 멀티 레벨 직접 변조 분석에 직접 적용되는 강력하고 정확한 신호 획득 테스트 시스템을 선택할 수 있다.

PAM4에서 사용되는 멀티 레벨 신호를 분석하려면 복수의 비트 상태를 정확하게 획득하고 분석할 수 있는 낮은 노이즈와 뛰어난 신호 대 잡음비를 제공하는 오실로스코프가 필요하다.
텍트로닉스 DPO70000SX 오실로스코프는 기존 주파수 인터리빙 방식 오실로스코프에 비해 최대 30% 낮은 노이즈의 탁월한 저노이즈 획득 기능을 제공하는 ATI(비동기 시간 인터리빙) 기술을 사용한다.

광학 PAM4 측정 분석 또한 저노이즈 획득에 따른 장점을 활용할 수 있다. 텍트로닉스는 DSA8300 시리즈 샘플링 오실로스코프에서 사용할 수 있는 광학 획득 기술을 통해 최대 클럭 복구가 진행되는 경우에도 현재 업계에서 가장 낮은 노이즈와 가장 높은 감도를 제공한다. 텍트로닉스 80C15/CRTP 광학 모듈의 이와 같은 새로운 차원의 노이즈 성능은 TDEC 및 SR4 적합성 측정 기능의 완벽한 조합과 함께 광학 PAM4 분석에 최적이다.

텍트로닉스 고성능 오실로스코프 담당 총책임자인 브라이언 라이히(Brian Reich)는 "현재 와 미래의 IEEE 표준에서 PAM4가 급속하게 부각됨에 따라 텍트로닉스는 검증된 측정 분석 툴에 대한 고객의 요구에 대응하고 있다"면서, "두 세계 정상급 획득 시스템에서 제공하는 전기 및 광학 분석을 모두 지원하는 텍트로닉스의 포괄적인 PAM4 솔루션은 업계에서 가장 낮은 노이즈와 가장 높은 대역폭을 제공하는 동시에 100G 또는 400G 설계 엔지니어에게 PAM4 개발에 필요한 검증 및 설계 툴을 제공한다"라고 말했다.

PAM4 분석 툴셋의 기능에는 전체 파형 또는 상관 파형의 분석 기능, 멀티 레벨 임계값의 통과/실패 분석에 대한 레퍼런스 레벨 설정, 각 LSB 및 MSB 레벨에 대한 수치 상승/하강 시간, 텍트로닉스가 제공하는 PAM 전용 PLL 모델을 사용한 내장 클럭 복구 기능이 포함된다.

텍트로닉스 100G 및 400G 솔루션 테스트가 스페인 발렌시아에서 9월 28 ~ 30일간 열리는 ECOC 2015 심포지엄에서 진행 되었고, 이 행사에 대한 자세한 내용은 http://www.ecocexhibition.com/ 에서 확인할 수 있다.

가격 및 공급 상황
텍트로닉스 DSA8300 및 DPO70000SX 오실로스코프 모델용 PAM4 분석 솔루션은 2015년 제4분기에 공급될 예정이다.